
天星渦流測厚儀ED400用于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度,還可用于測量其它鋁材料、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度, 以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度,測量塑料薄膜及紙張的厚度。

采用電渦流原理,當探頭與試樣接觸時,探頭線圈產生的高頻電磁場會在基體金屬表面感應出渦電流,此渦電流產生的附加電磁場會改變探頭線圈參數, 而探頭線圈參數改變量的大小則決定與涂層厚度相關的探頭到基體之間的距離。渦流測厚儀ED400在校正之后通過對探頭線圈參數改變量的測量,經過計算機處理,就可得到覆蓋層的厚度值。
一、按鍵說明:
電源—電源開關鍵 。用于開啟或關閉電源。
統計—統計鍵。用于順序讀取一組測量數據的平均值、最大值、最小值、標準偏差和測量次數。
清除—刪除鍵。 用于刪除當前測量值或一個校正步驟。
校正—校正鍵 。用于校正儀器。
“ "—下調鍵 。在校正狀態時,用于將顯示值調低。
" "—上調鍵。在校正狀態時,用于將顯示值調高,組合鍵一兩個按鍵配合使用可得到新功能,如下表:

注:組合鍵的使用方法,按住組合鍵松開。儀器顯示"-一 " 之后顯示 "O" 或 "00" , 功能設定完成。
按電源開關鍵,接通電源,儀器開始執行自檢程序,顯示所有符號后發出一聲鳴音,顯示 " O" 或 " O. O" 。儀器進入測量狀態,此時可直接進行測量操作。
二、操作步驟:
1、測量:
手持探頭的塑料部分,將探頭平穩、垂直的落到清潔、干燥的試件上,儀器鳴叫一聲,顯示出膜厚值(測量時用力不要過大,以免損傷探頭)。抬高探頭,重新落下,可完成下一次測量。探頭抬高的高度應大于10mm, 持續時間應大于2秒鐘。一般每一測量點應測量 5-10次,然后讀取統計數據。
2、統計:
按動統計鍵可依次循環顯示以下統計數據:
MEAN—平均值
MAX—最大值
MIN—最小值
S — 標準偏差
N — 測量次數
再次測量時,可直接進入下一組測量數據。
3、刪除:
在測量過程中,如果因為探頭放置不穩或其它原因,出現了一個明顯錯誤的測量值,可按動刪除鍵將其刪除,不計入統計。天星渦流測厚儀ED400在校正狀態下,按動一次刪除鍵可刪除最后一個測量值,按動兩次刪除鍵可刪除此校正步驟所有測量值。
下一篇:天星韋氏硬度計W-20校正方法
